实验教学
 

紫外-可见光谱分析室

发布日期:2018-04-25   发布人:   浏览次数:;

 紫外-可见分光光度计

英文名:UV-Vis Spectrophotometer

型号:UV-2550

制造商:日本岛津公司(Shimadzu)

房间:化学实验楼206 负责人:彭勤龙 联系电话:13733780180

年份:2010

主要特点:

DDM光学系统;双单色器;0.1至5nm六档光谱带宽可选;低杂散光;高扩展性;可测固体粉末漫反射;中文界面。

应用范围:

适用于溶液和粉体紫外可见光谱测定;

大多数有机物,部分无机物可直接测定含量;

无色物质可显色后测定或紫外光度测定含量;

微纳固体颗粒漫反射测定;

可测反应动力学。

主要技术参数

1、测定波长范围:190~900nm;

2、谱带宽度:0.1~5nm;

3、分辨率:0.1nm;

4、波长重现性:±0.1nm;

5、杂散光:0.0003%以下;

6、测光方式:双光束方式(付反馈直接比例方式);

7、测光范围:吸光度-4~5Abs,透射率,反射率:0.0-999.9%;

8、基线平坦度:±0.001Abs以内(除去干扰,狭缝2nm,波长扫描);

9、检测器:光电倍增管。

电化学工作站

英文名:Electrochemical Workstation

型号:CHI660e

制造商:上海辰华仪器有限公司

房间:化学实验楼206

年份:2014

主要特点:

快速数字信号发生器;直接数字信号合成器;

电流测量下限低于10pA;

双通道高速数据采集系统,电位电流信号滤波器,多级信号增益,iR降补偿电路;

仪器可工作于二,三,或四电极的方式。

应用范围:

适用于电活性物质含量测定,无电活性物质可用衍生活化,分子印迹等方法测定;


























适用于电极材料及溶液中电活性物质电化学行为测定;

适用于交流阻抗谱测定;

适用于超级电容器等电池性能测定;

可测偶联电极反应参数。

主要技术参数

1、CV和LSV扫描速度:0.000001V/s至10,000V/s;

2、扫描时的电位增量:0.1mV(当扫速为1,000V/s时);

3、SWV频率:1至100kHz;

4、DPV和NPV的脉冲宽度:0.001至10s;

5、交流阻抗:0.00001至1MHz;

6、CA和CC的脉冲宽度:0.0001至1000s;

7、CA和CC的最小采样间隔:1ms;CC模拟积分器;

8、i-t的最小采样间隔:1ms;

9、最大电位范围:±10V;最大电流:±250mA连续,±350mA峰值。

 

化学与环境工程学院2023-2024学年第二学期实验教学课表
 
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实验 
项目
实验 
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指导 
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节次  
实验(分)室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 2 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 2 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 3 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 3 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 4 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 4 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 5 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 5 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 6 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 6 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 7 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 7 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 8 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 8 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 9 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 9 二[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 10 三[5-7节] C206电化学分析室
[F31126903] 材料结构与性能 半导体材料光电化学性能的测定 3.0 李艳岭 10 二[5-7节] C206电化学分析室

 

 

 

 

 

 

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